Systech präsentiert doppelseitigen Flying Probe Tester auf der EFX
Laut all-electronics.de zeigt Systech Europe auf der EFX 2026 den doppelseitigen Flugsondenprüfer APT-2600FD von Takaya.

Das System kontaktiert die Baugruppe mit vier Messköpfen und sechs Prüfnadeln auf der Oberseite sowie mit zwei Messköpfen und vier Prüfnadeln auf der Unterseite. Beide Seiten werden gleichzeitig erfasst; ein separates Wendeverfahren entfällt. Der EFX-Auftritt liefert damit eine konkrete Messanordnung, aber noch keinen Leistungsnachweis für eine bestimmte Baugruppe.
Messaufbau statt Nadelzahl
Die relevante Änderung liegt im parallelen Zugriff auf Ober- und Unterseite. Dadurch entfällt nicht nur ein einzelner Arbeitsschritt. Der gesamte Prüfablauf kann ohne Unterbrechung für das Wenden der Baugruppe aufgebaut werden. Systech Europe und Takaya führen als Folge kürzere Prüfabläufe sowie eine höhere Testabdeckung und Prüftiefe an.
Diese Aussage muss anhand realer Prüfdaten überprüft werden. Die reine Anzahl der Prüfnadeln beschreibt keine Messleistung. Im vorliegenden Material fehlen Angaben zu Zykluszeit, Messunsicherheit, Kontaktwiederholbarkeit und Fehlererkennungsrate. Auch die genaue Positioniergenauigkeit der Nadeln wird nicht genannt. Für einen belastbaren Vergleich zählen daher die Ergebnisse auf einer definierten Baugruppe, nicht die Summe der Nadeln.
Die gleichzeitige Kontaktierung mehrerer Prüfpunkte erweitert den Ablauf um zusätzliche Verfahren. Systech Europe nennt Boundary-Scan-Tests und die Programmierung im System. Beide Funktionen sind nur dann ein praktischer Gewinn, wenn sie ohne zusätzlichen Handlingschritt in den bestehenden Prüfplan passen. Vor einer Umstellung ist deshalb zu klären, welche Prüfpunkte tatsächlich von der Oberseite und welche von der Unterseite kontaktiert werden können. Die Baugruppe selbst muss diese Messanordnung zulassen.
Über eine entsprechende Vorrichtung kann ein kundenspezifischer Nadelbettadapter eingesetzt werden. Damit lassen sich weitere Kontaktpunkte in die Prüfung einbeziehen. Ein solcher Adapter darf nicht automatisch als höhere Testabdeckung bewertet werden. Zu erfassen sind die tatsächlich zusätzlich erreichten Prüfpunkte, der dafür nötige Rüstaufwand und die Stabilität des Adapterkontakts. Erst dann lässt sich der Beitrag zur Prüftiefe rechnerisch erfassen.
Kriterien für die Prüfplanung
Für die praktische Bewertung sollte zuerst eine Referenzbaugruppe festgelegt werden. An derselben Baugruppe sind der bestehende Ablauf und der Ablauf mit dem APT-2600FD unter identischen Prüfbedingungen zu vergleichen. Erfasst werden müssen mindestens die Zeit für das Wenden, die Programmierzeit, die eigentliche Messzeit und die Zeit für eventuelle Zusatzverfahren. Ein Vergleich der reinen Gerätetaktzeiten reicht nicht aus.
Danach ist die Testabdeckung zu quantifizieren. Dafür muss vorher definiert werden, welche Netze, Bauelemente und elektrischen Funktionen als geprüft gelten. Ein bloßer Anstieg der Zahl kontaktierter Punkte ist noch kein Messgewinn. Entscheidend ist, welche Fehlerbilder mit den zusätzlichen Kontakten erkannt werden und ob diese Erkennung im Produktionsprozess tatsächlich relevant ist.
Für die Umstellung sind vier Fragen zu beantworten:
- Welche vorgesehenen Prüfpunkte liegen auf der Oberseite, welche auf der Unterseite?
- Wie viele Prüfpunkte werden durch die Mehrpunktkontaktierung gleichzeitig erfasst?
- Welche Prüfverfahren werden dadurch in den laufenden Ablauf integriert?
- Welche zusätzlichen Kontaktpunkte liefert der kundenspezifische Nadelbettadapter?
Die Ergebnisse gehören in ein Messprotokoll. Ohne Ausgangsbasis bleibt die Aussage „mehr Testabdeckung“ qualitativ. Mit einer definierten Baugruppe, einer festgelegten Fehlermenge und wiederholten Läufen wird daraus ein nachvollziehbarer Soll-Ist-Vergleich. Gerade bei doppelseitigen Baugruppen entscheidet nicht die mechanische Möglichkeit, sondern die Kombination aus Zugänglichkeit, Prüfzeit und nachgewiesener Fehlererkennung.
Elektrische Grenzen und Urteil
Der APT-2600FD bietet neben Prüfungen direkt am Schaltkreis auch Funktionen für komplexe Funktionstests. Mehrere 16-Bit-Gleichspannungsversorgungen für alle vier Quadranten und ein programmierbarer Wechselspannungsgenerator erweitern die elektrischen Prüfmöglichkeiten. Der Quellentext nennt jedoch weder konkrete Spannungs- und Strombereiche noch Messabweichungen oder die erreichbare Signalqualität.
Vor einer Kaufentscheidung müssen diese Daten gegen den Prüfplan gestellt werden. Festzuhalten sind die benötigten Versorgungszustände, die erforderlichen Stimuli und die Messtoleranzen für die jeweilige Baugruppe. Die Angabe „16 Bit“ beschreibt die Auflösung der Versorgungen, nicht automatisch die Genauigkeit der gesamten Messkette. Für die Beurteilung sind deshalb die konkreten Gerätedaten und Messprotokolle erforderlich.
Die EFX-Präsentation ist Teil eines geführten Rundgangs mit zwölf Unternehmen. Dabei geht es unter anderem um Oberflächenmontage, Löten, Inspektion, Reinigung, Automatisierung und Rückverfolgbarkeit. Der Tester fügt sich damit in eine vollständige Fertigungskette ein, nicht in eine isolierte Einzelprüfung.
Das Urteil bleibt nüchtern: Der APT-2600FD ist für doppelseitig zu prüfende Baugruppen dann relevant, wenn der bestehende Ablauf durch das Wenden begrenzt wird und die zusätzliche Kontaktierung nachweislich Fehler erkennt oder Prüfschritte einspart. Die gezeigte Hardware beschreibt das Potenzial. Über Taktzeit, Abdeckung und Prüftiefe entscheiden erst die Daten einer realen Baugruppe. Ohne diese Messreihe ist keine belastbare Investitionsentscheidung möglich.